आंतरिक और बाह्य गुण
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विज्ञान और अभियांत्रिकी में, एक आंतरिक संपत्ति एक निर्दिष्ट विषय की संपत्ति (दर्शन) है जो स्वयं या विषय के भीतर मौजूद है। जिस विषय की विशेषता बताई जा रही है, उसके लिए एक बाहरी संपत्ति आवश्यक या अंतर्निहित नहीं है। उदाहरण के लिए, द्रव्यमान किसी भी भौतिक शरीर का एक आंतरिक गुण है, जबकि वजन एक बाह्य गुण है जो उस गुरुत्वाकर्षण क्षेत्र की ताकत पर निर्भर करता है जिसमें वस्तु रखी गई है।
विज्ञान और इंजीनियरिंग में अनुप्रयोग
सामग्री विज्ञान में, एक आंतरिक संपत्ति इस बात से स्वतंत्र होती है कि कितनी सामग्री मौजूद है और सामग्री के रूप से स्वतंत्र है, उदाहरण के लिए, एक बड़ा टुकड़ा या छोटे कणों का संग्रह। आंतरिक गुण मुख्य रूप से मौलिक रासायनिक संरचना और सामग्री विज्ञान # सामग्री के मूल सिद्धांतों पर निर्भर हैं।[1] परिहार्य रासायनिक संदूषकों या संरचनात्मक दोषों की उपस्थिति पर निर्भर होने के कारण बाह्य गुणों को विभेदित किया जाता है।[2] जीव विज्ञान में, आंतरिक प्रभाव एक जीव या कोशिका (जीव विज्ञान) के अंदर से उत्पन्न होते हैं, जैसे कि ऑटोइम्युनिटी रोग या आंतरिक प्रतिरक्षा।
इलेक्ट्रानिक्स और प्रकाशिकी में, उपकरणों (या उपकरणों की प्रणालियों) के आंतरिक गुण आमतौर पर वे होते हैं जो विभिन्न प्रकार के गैर-आवश्यक दोषों के प्रभाव से मुक्त होते हैं।[3] इस तरह के दोष डिजाइन की खामियों, निर्माण त्रुटियों, या परिचालन चरम सीमाओं के परिणामस्वरूप उत्पन्न हो सकते हैं और विशिष्ट और अक्सर अवांछनीय बाहरी गुणों का उत्पादन कर सकते हैं। आधुनिक इलेक्ट्रिकल और ऑप्टिकल सिस्टम के उच्च प्रदर्शन और विश्वसनीयता इंजीनियरिंग को प्राप्त करने के लिए आवश्यक इंजीनियरिंग कार्यों में आंतरिक और बाहरी दोनों गुणों की पहचान, अनुकूलन और नियंत्रण शामिल हैं।[4]
यह भी देखें
- गहन और व्यापक गुण
- Typology_(धर्मशास्त्र)#Intrinsic_vs._extrinsic_typology (धर्मशास्त्र)
- आंतरिक कारक (जीव विज्ञान)
- आंतरिक अर्धचालक (सामग्री विज्ञान)
- आंतरिक कार्य (कंप्यूटर प्रोग्रामिंग)
- आंतरिक समीकरण (ज्यामिति)
- प्रेरणा
- सनस्पॉट (अर्थशास्त्र), जिसे बाह्य यादृच्छिक चर के रूप में भी जाना जाता है
- जमावट, आंतरिक और बाह्य रक्त के थक्के रास्ते के साथ
संदर्भ
- ↑ Food and Packaging Engineering (IFNHH, Massey University, NZ)
- ↑ Mishra, Umesh and Singh, Jasprit, Chapter 1: Structural Properties of Semiconductors. In: Semiconductor Device Physics and Design, 2008, Pages 1-27, doi:10.1007/978-1-4020-6481-4, ISBN 978-1-4020-6481-4
- ↑ Sune, Jordi and Wu, Ernest Y., Chapter 16: Defects Associated with Dielectric Breakdown in SiO2-Based Gate Dielectrics. In: Defects in Microelectronic Materials and Devices (Edited by Fleetwood, Daniel and Schrimpf, Ronald), 2008, Pages 465-496, doi:10.1201/9781420043778, ISBN 9781420043778
- ↑ Ueda, Osamu and Pearton, Stephen J. editors, Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices, 2013, doi:10.1007/978-1-4614-4337-7, ISBN 978-1-4614-4337-7